LW400LJT


芯片检查显微镜

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仪器用途:

LW400LJT适用于对不透明物体的显微观察。采用优良的无限远光学系统与模块化功能设计理念,可以方便升级系统,实现偏光观察、暗场观察等功能,紧凑稳定的高刚性主体,充分体现了显微操作的防振要求。符合人机工程学要求的理想设计,使操作更方便舒适,空间更广阔。适用于金相组织及表面形态的显微观察,是金属学、矿物学、精密工程学研究的理想仪器。

性能特点:

1、配置大视野目镜和长距平场消色差物镜(无盖玻片),视场大而清晰

2、配置大移动范围的载物台,移动范围:8"×8"(204mm×204mm)

3、粗微动同轴调焦机构,粗动松紧可调,带限位锁紧装置,微动格值:0.8μm

4、6V 30W卤素灯,亮度可调

5、三目镜筒,可自由切换正常观察/偏光观察,可进行100%透光摄影


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