LW400JT


芯片检查显微镜

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仪器用途:

LW400JT专为微电子行业量身定做,适用于硅、砷化镓、磷化铟等基片6″8″盘的生产工艺检查;可以方便的快移和精确的位移检查;也可以适用其它需较大面积标本的工艺检查。

性能特点

1、 配置大视野目镜和长距平场消色差物镜(无盖玻片),视场大而清晰。

2、配置大移动范围的载物台

3、粗微动同轴调焦机构,粗动松紧可调,带锁紧和限位装置,微动格值:2μm。

4、6V 20W卤素灯,亮度可调。

5、三目镜筒,可自由切换正常观察与偏光观察,可进行100%透光摄影。


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