MDP-A1

MDP-A1


熔深测量显微镜
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仪器用途:

采用平行光路系统,用于现代化生产中的机器视觉领域、工业检测领域、科学研究领域等。可用作熔深测量。

特点:

.采用平行光路成像系统,并应用多层镀膜技术

.可根据需要选择各种倍率的辅助物镜和摄像目镜,使得整个系统倍率范围0.35X-18X,工作距离37mm-356mm,物方视场范围0.23mm -91mm


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